高性能全自動壓汞儀（MIP）測試壓汞儀使用汞侵入法來測定總孔體積、孔徑分布、孔隙率、密度和傳輸性。內(nèi)置強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和報(bào)告程序包，快速升壓、靈活、可控的真空系統(tǒng)，和高性能的低/高壓系統(tǒng)。

本公司可進(jìn)行以下各類儀器測試：EXAFS、球差電鏡、冷凍電鏡、原位透射、原位XRD、原位拉曼、原位紅外、原位XPS、原位EBSD、穆斯堡爾譜、TOF-SIMS、fS-TAS、球差電鏡、FIB、TEM度(可離子減薄、雙噴、FIB制樣)、磁性HRTEM、SAED、MAPPING、原位TEM、三維重構(gòu)等。SEM（ 冷場/熱場超高分辨，10-20萬倍(云直播) ），EBSD 機(jī)械拋光/電解拋光原位EBSD測試 。AFM 、形貌、楊氏模量等。工業(yè)CT 、EPMA 、三維輪廓儀、共聚焦顯微鏡。常規(guī)XRD、原位XRD、UPS、單晶、XRF、SAXS。能譜XPS、TOF-SIMS、俄歇電子譜輝光質(zhì)譜。 光譜 紅外、拉曼、紫外、熒光、圓二色譜、fs-TAS。物理吸附、化學(xué)吸附。核磁 液體核磁、固體核磁、ESR/EPR穆斯堡爾譜。熱分析 TG-DSC TG-MS 、TG-IR、 熱膨脹TMA、 DMA 、比熱容 、導(dǎo)熱系數(shù) 。錐形量熱儀 、極限氧指數(shù)、 UL94燃燒 。色譜質(zhì)譜 、MS 、 HPLC 。物性測試 VSM、 SQUID 、PPMS 。粒度 ZETA 、固體ZETA 接觸角。粘度 、矢量網(wǎng)絡(luò) 、水分測定、 霍爾效應(yīng) 、塞貝克系數(shù)、 流變儀 、電導(dǎo)率、 阻抗 、肖特基 、光電流、 SPV 、電磁屏蔽 、介電、 透氣性測試 。力學(xué)性能 納米壓痕、 微米劃痕、 拉伸 、疲勞 、沖擊、 殘余應(yīng)力、 硬度、理化分析實(shí)驗(yàn)室、材料測試實(shí)驗(yàn)室、研發(fā)實(shí)驗(yàn)室等，提供化學(xué)測試、生物實(shí)驗(yàn)外包、環(huán)境檢測、模擬計(jì)算、科研繪圖在內(nèi)的各類科研服務(wù)。

高性能全自動壓汞儀（MIP）測試介紹
全自動壓汞儀是通過汞入侵法來測定粉末和固體物理性質(zhì)的儀器，因氮?dú)馕綔y試只能局限于測中孔、微孔分布，大孔材料一般般利用壓汞測試來測量。
實(shí)際上,材料孔隙的研究內(nèi)容包括孔隙大小形態(tài)、結(jié)構(gòu)、類型、孔隙度、孔容、孔比表面積測試等。壓汞法以及氣體(氮?dú)?吸附法是進(jìn)行材料孔隙結(jié)構(gòu)研究中常用的方法，可以有效地研究孔隙大小、形態(tài)以及結(jié)構(gòu)特征。
壓汞法的特點(diǎn)是測量速度快、對樣品的形狀要求不高。由于受到實(shí)驗(yàn)室儀器限制,低溫氮?dú)馕綔y試的材料最小孔徑為0.6 nm ,最大孔直徑為100~150 nm ,而壓汞法實(shí)際能測試的孔徑范圍為幾個納米到幾百個微米。
壓汞法可以測定多孔材料的孔徑大小、孔隙體積,從而計(jì)算出孔徑分布。壓汞法首先由H.L.Ritter和L.C.Drake提出。 它是基于汞對固體表面具有不可潤濕性,只有在壓力的作用下,汞才能擠入多孔材料的孔隙中,孔徑越小,所需要的壓力就越大。
高性能全自動壓汞儀（MIP）測試應(yīng)用領(lǐng)域
壓汞儀用來測定粉末和固體重要的物理特性，如孔徑分布、總孔體積、總孔表面積、中值孔徑、樣品的密度(真密度和堆密度)、流體導(dǎo)電性和機(jī)械性能。
高性能全自動壓汞儀（MIP）測試注意事項(xiàng)
1、孔徑分布，可分析孔徑范圍：5nm～800 um，可分析粉末（可能誤差比較大）或者塊狀樣品；
2、孔隙率，僅能測樣品要壓壞前正常被測到的孔且是連通孔的孔隙率。
適用于粉末或多孔材料的孔徑分布、孔體積、比表面積、堆積密度、表觀密度、孔隙度、顆粒分布及相關(guān)特性的測試。
1. 此測試樣品無法回收；可分析粉末（可能誤差比較大）或者塊狀樣品；壓汞適合剛性材料的檢測，非剛性材料測試在汞入侵后會改變孔結(jié)構(gòu)導(dǎo)致孔徑小于真實(shí)值。樣品不能容易含有能和汞發(fā)生反應(yīng)的成分，如含重金屬等無法安排測試。
2.(1). 粉末樣品量：最好2～3克；(2). 塊體樣品尺寸不超過25px*25px*25px；薄膜類樣品需要疊加測試，可以提供尺寸125px×125px一片或25px×25px多片。
3.可分析孔徑范圍：5nm（壓力30000psi）～800μm，其他需要請聯(lián)系工作人員
高性能全自動壓汞儀（MIP）測試常見問題
1. 報(bào)告中的BET比表面積值是否可用
麥克儀器的壓汞測試與BET物理吸附儀軟件通用，所以壓汞數(shù)據(jù)中會存在BET比表面這個參數(shù)，不是實(shí)驗(yàn)測到的數(shù)據(jù)，這個數(shù)值可以忽略，老版軟件會有這個問題，新版有做調(diào)整。如果需要準(zhǔn)確的BET比表面積數(shù)據(jù)可以通過測試BET物理吸附儀得到。但是需注意BET物理吸附儀在處理微孔和介孔樣品時(shí)數(shù)值會比較準(zhǔn)確。
2. 測的的孔徑分布比SEM圖片看到的要小或者大
可能原因：第一，圧汞測的是樣品整體的孔徑分布，而且是樣品被壓力破壞前的孔徑分布，而SEM測的是樣品表面微小區(qū)域的孔徑分布，而且倍數(shù)太高的話，SEM的標(biāo)尺是可能有一定誤差的，所以兩者可比性并不太大；第二，可能SEM中看到的目標(biāo)孔在樣品中含量太低，在圧汞數(shù)據(jù)顯示的峰太小，需要放大才能看到，這個需要具體樣品，具體分析。
3.壓汞是否可以回收？
不能回收，做完的樣品已經(jīng)浸潤了汞，有毒，需要集中處理。
4.怎么得到孔隙率？
麥克的儀器可以直接通過儀器分析得到，康塔的需要同測量樣品總體積手動計(jì)算。
5.MIP能測的壓力范圍是多少？
康塔最大壓力32915PSI（227MPA）,麥克最大壓力60000psi（413MPA）。
6.都能測孔徑分布，怎么選擇MIP和BET？
BET能測的孔徑是小于20nm以下的孔，20nm以上的孔基本都需要MIP來做，極限是500um的孔。
7. MIP送樣尺寸？
粉末至少5g；固體樣最大尺寸37.5px3，如果塊體樣太小，需要更多的量；薄膜樣用量實(shí)際厚度為準(zhǔn)，薄的樣至少需要5-6片。
8.關(guān)于中間孔徑（V）和中間孔徑（A）數(shù)值差異較大的原因？
中間孔徑（V）的概念：不同孔徑的孔以孔體積的大小進(jìn)行排布，取中值孔體積對應(yīng)的孔徑的大小；中間孔徑（A）的概念：不同孔徑的孔以孔表面大小進(jìn)行排布，取中值表面積對應(yīng)的孔徑大小。相同體積不同孔直徑的孔，孔直徑較小的孔的孔表面積較大。所以一般情況下，中間孔徑（V）較中間孔徑（A）更大。
9.文件中每個樣品的具體數(shù)據(jù)，除了堆積密度與PDF格式文件（或Excel文件）中的數(shù)據(jù)一致意外，其它重要的參數(shù)如表觀密度、孔隙率、平均孔徑、中間孔徑等均不一致，是什么原因？
因?yàn)檐浖际悄J(rèn)用戶的這些參數(shù)是在設(shè)置的最后一個壓力情況下得到的，所以軟件都是取最后一個點(diǎn)來計(jì)算這些參數(shù)值。表觀密度我是取第一個加載點(diǎn)計(jì)算的，孔隙率我是取壓汞過程最大值來計(jì)算的，平均孔徑也是以最大值來計(jì)算的。
10.分析測試樣品的孔大小在樣品中的分布情況，也可以說是每種孔徑（孔體積）的孔在樣品中的占比如何？最好是得到孔徑（或體積）vs.占比的曲線圖。不知道怎樣可以得到這個曲線？
可以計(jì)算占比情況，因?yàn)閿?shù)據(jù)中有孔徑和各級孔徑對應(yīng)的孔容值及總孔容值。那么橫坐標(biāo)是孔徑（或體積），縱坐標(biāo)是孔容的百分率是可以的。
11.壓汞測試適用于什么類型的材料？
壓汞測試所需的壓力很高，軟性材料在高壓之下容易擠壓變形，所以測試的結(jié)果會失真。如果多孔材料是膜材料那么建議用氣體泡壓法或者液液置換法來測，如果不是貫通孔的話也只有用壓汞法做了。
壓汞法更適合于測試顆粒物或者塊狀樣品（像陶瓷、多孔金屬等有高強(qiáng)度的），如果是膜材料那么久需要滿足兩個條件才能測：1、樣品具有高強(qiáng)度，不易擠壓形變；2、樣品是對稱結(jié)構(gòu)而不是非對稱膜。
12.壓汞分析文件中，有兩個中間孔徑V和A，有什么區(qū)別？
中間孔徑V和A分別是指V和A從第一個點(diǎn)對應(yīng)值到第一次最大值這些數(shù)據(jù)中，V和A中間值對應(yīng)的孔徑，如最大值是1.000，那么0.500對應(yīng)的孔徑就是中間孔徑，因?yàn)槲覀兗虞d的壓力是一個一個點(diǎn)組成的，所以有時(shí)候這個0.500不一定正好存在，則所得的中間孔徑也就是估算大概的數(shù)據(jù)。
13.都能測孔徑分布，怎么選擇MIP和BET?
BET能測的孔徑是小于20nm以下的孔，20nm以上的孔基本都需要MIP來做，極限是500um的孔


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