四探針法粉末電阻率測試儀測試分析原理：電阻率測試儀主要由五個部分組成：(1)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等，(2)信號發(fā)生器和放大器，(3)變壓器，(4)樣品模具，(5)小電流傳感器

本公司可進(jìn)行以下各類儀器測試：EXAFS、球差電鏡、冷凍電鏡、原位透射、原位XRD、原位拉曼、原位紅外、原位XPS、原位EBSD、穆斯堡爾譜、TOF-SIMS、fS-TAS、球差電鏡、FIB、TEM度(可離子減薄、雙噴、FIB制樣)、磁性HRTEM、SAED、MAPPING、原位TEM、三維重構(gòu)等。SEM（ 冷場/熱場超高分辨，10-20萬倍(云直播) ），EBSD 機(jī)械拋光/電解拋光原位EBSD測試 。AFM 、形貌、楊氏模量等。工業(yè)CT 、EPMA 、三維輪廓儀、共聚焦顯微鏡。常規(guī)XRD、原位XRD、UPS、單晶、XRF、SAXS。能譜XPS、TOF-SIMS、俄歇電子譜輝光質(zhì)譜。 光譜 紅外、拉曼、紫外、熒光、圓二色譜、fs-TAS。物理吸附、化學(xué)吸附。核磁 液體核磁、固體核磁、ESR/EPR穆斯堡爾譜。熱分析 TG-DSC TG-MS 、TG-IR、 熱膨脹TMA、 DMA 、比熱容 、導(dǎo)熱系數(shù) 。錐形量熱儀 、極限氧指數(shù)、 UL94燃燒 。色譜質(zhì)譜 、MS 、 HPLC 。物性測試 VSM、 SQUID 、PPMS 。粒度 ZETA 、固體ZETA 接觸角。粘度 、矢量網(wǎng)絡(luò) 、水分測定、 霍爾效應(yīng) 、塞貝克系數(shù)、 流變儀 、電導(dǎo)率、 阻抗 、肖特基 、光電流、 SPV 、電磁屏蔽 、介電、 透氣性測試 。力學(xué)性能 納米壓痕、 微米劃痕、 拉伸 、疲勞 、沖擊、 殘余應(yīng)力、 硬度、理化分析實驗室、材料測試實驗室、研發(fā)實驗室等，提供化學(xué)測試、生物實驗外包、環(huán)境檢測、模擬計算、科研繪圖在內(nèi)的各類科研服務(wù)。

四探針法粉末電阻率測試儀測試分析原理：
電阻率測試儀主要由五個部分組成：(1)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)等，(2)信號發(fā)生器和放大器，(3)變壓器，(4)樣品模具，(5)小電流傳感器。  
四探針法粉末電阻率測試儀測試介紹
無接觸電極電阻率測定儀是基于變壓器原理發(fā)明的，裝在環(huán)形模具里的待測樣品作為次級線圈，當(dāng)信號發(fā)生器和放大器在變壓器的初級線圈上施加一定電壓時，由于電流感應(yīng)，就會在待測線圈上產(chǎn)生恒定的環(huán)形電壓U，再由小電流傳感器測得待測樣品中的環(huán)電流，根據(jù)由歐姆定律及樣品尺寸推導(dǎo)出的電阻率公式即可計算得到待測樣品。
四探針法粉末電阻率測試儀測試要求
1、樣品要求：粉末樣品按體積至少需要1ml以上；塊狀/薄膜：直徑＞25px，厚度＞1mm（太薄了探針可能會刺穿樣品，影響數(shù)據(jù)）；溶液最少需要10mL。
2、測試說明：粉末和塊狀/薄膜電阻率測試分為低阻計和高阻計，低阻計一般測試金屬、石墨烯、石墨等導(dǎo)電性物質(zhì)，電阻＜10KΩ；高阻計一般是測試塑料、布等導(dǎo)電性不好的物質(zhì)，電阻＞10KΩ；水溶液和有機(jī)溶液均可測試，結(jié)果只是一些數(shù)據(jù)，沒有圖譜！
1、可測不同溫度嗎？
可以的，需要確定具體的溫度范圍和條件


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