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SPJD-1200型 四通道同屏對(duì)比測(cè)試高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：SPJD-1200型型四通道同屏高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量，并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
價(jià)格：面議
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TSDC/TSC--4 熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TSDC/TSC--400 型熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系統(tǒng)
價(jià)格：面議
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GDPT-900高低溫壓電D33測(cè)試系統(tǒng) 教育領(lǐng)域重大設(shè)備更新實(shí)施方案設(shè)備采購(gòu)資料
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：GDPT-900A型變溫壓電d33測(cè)量系統(tǒng)是我院研制的即可低溫測(cè)試D33系數(shù)，又可以高溫測(cè)試D33系數(shù)。主要是針對(duì)高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測(cè)試。二、主要應(yīng)用領(lǐng)域：無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)，醫(yī)療超聲檢測(cè)，航空航天，石油天然器，汽車(chē)物聯(lián)網(wǎng)，海軍，工業(yè)
價(jià)格：面議
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HTIM-1000C型高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：HTIM-1000C型高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率主要用于評(píng)估測(cè)量絕緣材料電學(xué)性能，該系統(tǒng)采用三環(huán)電極法設(shè)計(jì)原理并結(jié)合GB-T 10581-2006 絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，可以直接測(cè)量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時(shí)間變化的曲線
價(jià)格：面議
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GWIM-1000型高溫體積表面電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：GWIM-1000型高溫體積表面電阻率測(cè)試儀是一款滿足GB／T31838.2-2019固體絕緣材料介電和電阻特性第2部分：電阻特性(DC方法)體積電阻和體積電阻率；等同IEC62631-3-1-2016固體絕緣材料的介電和電阻性能-第3-1部分:電阻特性的確定（直流方法）-體積電阻和體積電阻率-一般方法；
價(jià)格：面議
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CPT-1000型鐵磁材料高溫居里點(diǎn)測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：CPT-1000型鐵磁材料高溫居里點(diǎn)測(cè)試儀是一款應(yīng)用于磁性材料在電力、通訊、電子儀器、汽車(chē)、計(jì)算機(jī)和信息存儲(chǔ)等領(lǐng)域有著十分廣泛的應(yīng)用，近年來(lái)已成為促進(jìn)高新技術(shù)發(fā)展和當(dāng)代文明進(jìn)步不可替代的材料，也是新材料中的重要設(shè)備，目前在生產(chǎn)和科研單位中廣泛使用。
價(jià)格：面議
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PRPM-3000高低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：?PRPM-3000高低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流，計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。
價(jià)格：面議
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VRSRT-800型高溫體積電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：VRSRT-800型高溫體積電阻率測(cè)試儀用于描述絕緣材料在高溫變化趨勢(shì)下的電性能如電阻，電阻率的變化趨勢(shì)，具備高溫氣氛保護(hù)，PC軟件運(yùn)行及數(shù)據(jù)處理.用于對(duì)絕緣材料的研究分析；如橡膠，塑料，陶瓷，電化學(xué)材料等.
價(jià)格：面議
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HTRT-2000型2000℃超高溫導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：HTRT-2000型2000℃超高溫導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片，上位機(jī)智能管理分析軟件、真空多段溫控加熱設(shè)備組成的超高溫導(dǎo)電電阻率智能存儲(chǔ)分析儀器。測(cè)試導(dǎo)電金屬樣品根據(jù)測(cè)試工藝要求任意設(shè)定加熱，通過(guò)過(guò)程中電阻率的精密測(cè)量，完成對(duì)金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化如相變、
價(jià)格：面議
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GW-JDZK高溫介電溫譜阻抗分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：GW-JDZK高溫介電溫譜阻抗分析儀（溫度：1000℃，頻率：10HZ-20MHZ）提供頻率（10 Hz 至20MHz），可在不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量。其等效電路分析功能支持7種不同的參數(shù)模型(三組件、四組件)，可協(xié)助客戶仿真組件的等效參數(shù)值。并支持
價(jià)格：面議
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XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：諧振腔法是一種重要的材料測(cè)量方法，具有廣泛的應(yīng)用前景。隨著科技的不斷發(fā)展，諧振腔法將會(huì)在材料科學(xué)、電子工程、通信技術(shù)等領(lǐng)域發(fā)揮越來(lái)越重要的作用。XZQ-5000型諧振腔法高溫介電溫譜測(cè)試儀是為中低損耗材料、均質(zhì)材料、小樣品測(cè)試等需求而開(kāi)發(fā)的一款高精度高性價(jià)比的材料測(cè)試平臺(tái)。
價(jià)格：面議
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HTIM-1600型1600℃超高溫絕緣電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：HTIM-1600型1600℃超高溫絕緣電阻測(cè)試儀采可實(shí)現(xiàn)絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)，可以直接測(cè)量高溫、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率、漏電流等隨溫度、時(shí)間變化的曲線，超高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用。
價(jià)格：面議
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TDNX-1200型金屬高溫電阻測(cè)量?jī)x
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TDNX-1200型金屬高溫電阻測(cè)量?jī)x是一款專(zhuān)門(mén)針對(duì)于任意大小形狀及尺寸的金屬材料電阻測(cè)試高溫系統(tǒng)，常見(jiàn)的不銹鋼、鍍鋅鋼、銅合金、鎳合金等金屬材料均可測(cè)試。設(shè)備采用高精度的儀表，電阻精度量精確到 1uΩ，配備高精度標(biāo)準(zhǔn)電阻，數(shù)據(jù)溯源美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究院數(shù)據(jù)。是目前研究金屬材料高溫電阻變化的重要設(shè)備。
價(jià)格：面議
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MTDL-1000型高溫金屬熔融電導(dǎo)率測(cè)試裝置
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：BLDL-1000型高溫金屬熔融電導(dǎo)率測(cè)試裝置是一款專(zhuān)門(mén)應(yīng)用于金屬電導(dǎo)率測(cè)量的，它是一種在高溫下測(cè)量金屬材料在高溫下熔融的電導(dǎo)率(電阻率）的裝置。熔體的電導(dǎo)率是用雙電極法測(cè)量的,是目前研究高溫金屬電導(dǎo)率的重要設(shè)備。
價(jià)格：面議
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GWJDN-4 四通道，四樣品高低溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量，并參考美國(guó)A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。采用Labview系統(tǒng)開(kāi)發(fā)具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測(cè)量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。電壓、過(guò)電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過(guò)程的安全；資料保存機(jī)制，當(dāng)遇到電腦異常瞬
價(jià)格：面議
