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手機(jī)站:http://m.bjjkzc17.com
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TF Analyzer 1000鐵電壓電分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 1000TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測(cè)試。
價(jià)格：面議
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aixDBLI雙光束激光干涉儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：雙光束激光干涉儀 aixDBLI(Double Beam Laser Interferometer)雙光束激光干涉儀專門用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數(shù)d33的測(cè)試。這是適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀
價(jià)格：面議
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FeRAM鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀FeRAM (Ferroelectric Random Access Memory) Cell Tester內(nèi)存窗口信息是基于對(duì)器件完全集成后進(jìn)行模擬電滯回線測(cè)量后得出的。應(yīng)用領(lǐng)域：鐵電存儲(chǔ)器的生產(chǎn)生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制，以便不會(huì)影響到CMOS生產(chǎn)過(guò)程在MHz的操作速度下，單級(jí)電滯回線數(shù)據(jù)
價(jià)格：面議
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aixPES-Cryo低溫塊體壓電分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：aixPES-Cryo低溫塊體壓電分析儀本系統(tǒng)主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。
價(jià)格：面議
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aixPES壓電材料綜合表征系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：aixPES壓電材料綜合表征系統(tǒng)本系統(tǒng)主要用于壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。大信號(hào)和小信號(hào)材料的特征可以在一定溫度范圍內(nèi)表征。樣品上的電流響應(yīng)測(cè)量是通過(guò)精確的虛擬接地方法衡量電壓激勵(lì)信號(hào)。樣品的微位移同時(shí)通過(guò)激光干涉儀進(jìn)行測(cè)量。
價(jià)格：面議
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RRAM阻變式存儲(chǔ)器測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：RRAM阻變式存儲(chǔ)器測(cè)試儀(RRAM or ReRAM Test Systems)本設(shè)備是世界獨(dú)特的阻變式存儲(chǔ)器 （ReRAM/RRAM，Resistive Random Access Memory）測(cè)試系統(tǒng)。應(yīng)用領(lǐng)域主要有：Ferroelectric/ Multiferroic Tunnel-Junctions (FTJ/MFTJ) 鐵電/多鐵隧道結(jié)
價(jià)格：面議
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aixPES-MR多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：多鐵材料磁電磁阻測(cè)試儀 aixPES-MR(MagnetoResistive Measurement)本系統(tǒng)主要用于研究磁阻和鐵性材料。本系統(tǒng)提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試，樣品上的電壓降通過(guò)高精度四點(diǎn)測(cè)試。
價(jià)格：面議
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TSDC熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀 TSDC(Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)本系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測(cè)試材料的熱激發(fā)極化電流TSDC (Thermally Stimulated Depolarization Current Measurement)。
價(jià)格：面議
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aixPES-600/800高溫塊體壓電分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：高溫塊體壓電分析儀 aixPES-600/800本系統(tǒng)主要用于高溫下的壓電塊體陶瓷樣品的全面電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測(cè)試溫度可以達(dá)到室溫到600℃或室溫到800℃兩種溫度范圍。
價(jià)格：面議
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aixPES-RX鐵電遲豫電流測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：鐵電遲豫電流測(cè)試儀 aixPES-RX(aixPES Relaxation Measurement )本設(shè)備主要用來(lái)研究電子陶瓷材料的遲豫性能，也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開(kāi)，并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。
價(jià)格：面議
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TF Analyzer 2000E鐵電壓電分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 2000ETF ANALYZER 2000E是一款擴(kuò)展性極強(qiáng)的模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
價(jià)格：面議
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電卡效應(yīng)測(cè)試儀 ECM
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：電卡效應(yīng)測(cè)試儀 ECM(ElectroCaloric Measurement)本系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外，還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。電卡測(cè)試性能參數(shù)：溫度范圍: -50℃到200℃溫度靈敏度: 20mK熱流時(shí)間范圍: 1s-1000s
價(jià)格：面議
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RU-1400型高頻電刀校準(zhǔn)裝置
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：RU-1400型高頻電刀校準(zhǔn)裝置RU-1400型高頻電刀校準(zhǔn)裝置是一款適用于電外科手術(shù)器械的輸出功率、高頻漏電流、極板接觸監(jiān)測(cè)性能的評(píng)價(jià)工具，是一款符合JJF 1217-2009 高頻電刀校準(zhǔn)規(guī)范的高頻電刀校準(zhǔn)裝置，該設(shè)備三組獨(dú)立的電阻負(fù)載（極板接觸性 CQM，高頻漏電流，能量輸出）兼容所有類型高頻電刀，
價(jià)格：面議
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TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：TF Analyzer 3000鐵電壓電分析儀 TF ANALYZER 3000E是一款擴(kuò)展性極強(qiáng)的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
價(jià)格：面議
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aix4PB機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：機(jī)電薄膜e31測(cè)試儀 aix4PB(Electromechanical thin film e31 analyzer )薄膜材料的機(jī)電性能是MEMS器件設(shè)計(jì)的關(guān)鍵性能，縱向壓電系數(shù)d33和橫向壓電系數(shù)e31被用于表征傳感器和執(zhí)行器的這些關(guān)鍵性能。
價(jià)格：面議
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鐵電壓電分析儀 TF Analyzer 2000E
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：ANALYZER 2000E是一款擴(kuò)展性極強(qiáng)的模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。模塊化設(shè)計(jì)的TF Analyzer 2000 E具有優(yōu)異的
價(jià)格：面議
