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產(chǎn)品展示
  • GWJDN-600A 一種關(guān)鍵壓電材料高溫介電溫譜儀新品上市

    產(chǎn)品簡介:GWJDN-600A壓電材料高溫介電溫譜儀本高頻介電溫譜系統(tǒng)主要用于絕緣材料在不同溫度不同頻率下的電學(xué)性能測(cè)試,系統(tǒng)包含高溫爐膛,阻抗分析儀,微電流表,夾具,測(cè)試軟件于一體,可測(cè)試材料的介電常數(shù),介質(zhì)損耗,阻抗譜Co-Co圖,機(jī)電耦合系數(shù),等,同時(shí)可分析被測(cè)樣品隨溫度,頻率,時(shí)間變化的曲線,測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及

    價(jià)格:面議
  • HTRS-1000型 高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀

    產(chǎn)品簡介:HTRS-1000型高溫半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)試儀主要用于半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的評(píng)估和測(cè)試,該系統(tǒng)采用四線電阻法測(cè)量原理進(jìn)行設(shè)計(jì)開發(fā),可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率,可以分析被測(cè)樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線。目前主要針

    價(jià)格:面議
  • HTIM-1000 高溫緣材料電阻率測(cè)試儀

    產(chǎn)品簡介:HTIM-1000高溫緣材料電阻率測(cè)試儀

    價(jià)格:面議
  • TSC(TSDC)-5000熱刺激電流測(cè)試儀

    產(chǎn)品簡介:熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的,研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測(cè)量出某些物質(zhì)(如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐極體等)的微觀參數(shù),熱刺激法是一面對(duì)材料升溫一面進(jìn)行測(cè)量,即非等溫測(cè)量。由于材料(例如介電材料)中的荷電粒子的微觀參數(shù)(如活化能h、松弛時(shí)間τ等)不同,用熱

    價(jià)格:面議
  • PRPM-1000 熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng)

    產(chǎn)品簡介:PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng)

    價(jià)格:面議
  • ZKSJD-600型全自動(dòng)高低溫介電溫譜儀

    產(chǎn)品簡介:ZKSJD-600型全自動(dòng)高低溫介電溫譜儀是中科院聲學(xué)所研發(fā)的最新一款高低溫介電溫譜儀用于分析寬頻、高低溫條件下被測(cè)樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導(dǎo)納Y、電導(dǎo)G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量,得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線。可廣泛應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研

    價(jià)格:面議
  • HTIM-600C 高溫電阻率測(cè)試儀(提供CNAS計(jì)量認(rèn)證)

    產(chǎn)品簡介:HTIM-600高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備,可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備,該儀器采用使用方法多樣化,最大2000V,最快6.4ms的采集系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能最快6.4ms的高速測(cè)量

    價(jià)格:面議
  • GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀

    產(chǎn)品簡介:GWJDN-1000B高溫介電溫譜分析儀采用當(dāng)前的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一高溫介電溫譜分析儀,產(chǎn)品全新的電子器件。.了傳統(tǒng)國產(chǎn)儀器復(fù)雜繁瑣的操作界面?;赪indows10操作系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)了全電腦化操作界面。讓測(cè)試更智能、更簡便。

    價(jià)格:面議
  • 高溫鐵電測(cè)試儀hysteresis loop

    產(chǎn)品簡介:GWTF-300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測(cè)量系統(tǒng),旨在針對(duì)一些特殊的要求材料需要在高溫下測(cè)量而研發(fā)的一套鐵電測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實(shí)現(xiàn)了高溫測(cè)試,而且在電壓和頻率上進(jìn)行了提高,對(duì)我們的鐵電材料研究和測(cè)試帶來更加重要的幫助,該系統(tǒng)可以測(cè)量鐵電材料的電滯回線,飽和極化Ps、剩余極

    價(jià)格:面議
  • GWJDN-400型2MHZ自動(dòng)平衡高溫介電溫譜儀

    產(chǎn)品簡介:主要功能:材料介電常數(shù)測(cè)試儀半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性性能特點(diǎn):溫度:RT-1000℃測(cè)試頻率: 20Hz- 21MHz, 分辨率:最高0.1mHz基本精度: 0.05%測(cè)試速度:最快5. 6ms/次

    價(jià)格:面議
  • HTRT-1600型超高溫導(dǎo)電材料電阻率測(cè)試儀

    產(chǎn)品簡介:HTRT-1600本系統(tǒng)主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片,上位機(jī)智能管理分析軟件、真空多段溫控加熱設(shè)備組成的金屬電阻率智能存儲(chǔ)分析儀器。測(cè)試金屬樣品根據(jù)測(cè)試工藝要求任意設(shè)定加熱、降溫曲線,通過過程中電阻率的精密測(cè)量,完成對(duì)金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化如相變、碳化物、固溶度等特性的分析。

    價(jià)格:面議
  • BMJD-400 薄膜變溫低溫介電測(cè)量系統(tǒng)

    產(chǎn)品簡介:BMJD-400薄膜低溫介電測(cè)量系統(tǒng)低溫介電測(cè)量系統(tǒng)是一款科研級(jí)的變溫測(cè)試設(shè)備,應(yīng)用于低溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析,通過配置不同的測(cè)試設(shè)備,完成不同參數(shù)的測(cè)試。廣泛應(yīng)用于陶瓷、薄膜、半導(dǎo)體、食品、生物、制藥及其它固體材料的阻抗與介電性能測(cè)量。是目前的薄膜低溫介電測(cè)試系統(tǒng),是國

    價(jià)格:面議
  • GWJDN-1000 高溫介電測(cè)量系統(tǒng)(2019款)

    產(chǎn)品簡介:GWJDN-1000型高溫介電測(cè)量系統(tǒng)(2019款)高溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析,通過配置不同的測(cè)試設(shè)備,完成不同參數(shù)的測(cè)試。是新一代高溫介電測(cè)試系統(tǒng),性能優(yōu)越,完全科研級(jí)別的測(cè)試裝置,是科研院所和高等學(xué)府的選設(shè)備。

    價(jià)格:面議
  • FSR-600材料高溫雙波段發(fā)射率測(cè)量系統(tǒng)

    產(chǎn)品簡介:FSR-600材料雙波段發(fā)射率測(cè)量系統(tǒng)是儀器主要用于軍事裝備的紅外隱身、紅外烘烤、建材、紙張、紡織等行業(yè)對(duì)材料紅外輻射特性的測(cè)量研究。對(duì)紅外材料而言,輻射率是它的一個(gè)非常重要的特征,在輻射測(cè)溫,材料科學(xué),紅外技術(shù),遙感技術(shù),軍事上的目標(biāo)識(shí)別和偽裝,表面涂層定量控制以及生物樣品分析等領(lǐng)域都有輻射率的問題,該可

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  • PRPM-1000 熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng)

    產(chǎn)品簡介:PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng)熱釋電材料目前主要用于紅外、激光等熱釋電探測(cè)領(lǐng)域,也廣泛地使用在各類輻射計(jì),光譜儀,以及紅外、激光探測(cè)器等方面。而熱釋電系數(shù)是測(cè)定紅外探測(cè)器工作特性的主要參數(shù)之一。PRPM-1000熱釋電系數(shù)高溫測(cè)試系統(tǒng)采用進(jìn)口的設(shè)備采集分析數(shù)據(jù),對(duì)熱釋電系數(shù)能夠準(zhǔn)確的測(cè)試,是目前高校和科

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  • HTMS-1000型高低溫方阻測(cè)試系統(tǒng)

    產(chǎn)品簡介:HTMS-1000型高低溫方阻測(cè)試系統(tǒng)是一款用于測(cè)量半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能的測(cè)試系統(tǒng),產(chǎn)品應(yīng)用范圍廣,能夠滿足導(dǎo)電功能薄膜材料、半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電玻璃材料、石墨烯等其它導(dǎo)電材料的測(cè)試需求;可以在高溫、真空氣氛的條件下測(cè)量半導(dǎo)體材料電阻和電阻率,可以分析被測(cè)樣品電阻和電阻率隨溫度、時(shí)間變化的曲線??梢栽诟邷亍?/p> 價(jià)格:面議

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