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SE-RD-STD系列全光譜橢偏儀

無錫浩輝者新材料科技有限公司

會員指數(shù)：

企業(yè)認證：

價格：電議

所在地：江蘇無錫市

型號：SE-RD-STD系列

更新時間：2024-08-13

瀏覽次數(shù)：654

公司地址：無錫惠山區(qū)清研路3號華清創(chuàng)智園8號樓A棟創(chuàng)業(yè)大廈201室'

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產(chǎn)品簡介

● 桌上型膜厚量測設備● 安裝移動迅速便捷● 適用于所有非金屬膜質● 多樣化的應用選擇● 工業(yè)標準數(shù)據(jù)端口

公司簡介

無錫浩輝者新材料科技有限公司依靠多年材料特性研究的經(jīng)驗及對檢測設備及技術的研發(fā)與應用，為客戶提供材料檢測分析儀器及方法。讓客戶深入了解全面的分析技術，以及其性能限制，為客戶的分析需求選擇適合的分析儀器。與此同時，我們會幫助輔導客戶完成整個分析過程，得到客戶所需要的答案及結果。也可依顧客需求，提供完整專業(yè)的系統(tǒng)解決方案。目前服務于各大專院校、研究機構、產(chǎn)業(yè)界研發(fā)單位和具備自主研發(fā)能力的大型企業(yè)，期望對國內(nèi)外的科研及產(chǎn)業(yè)盡一份心力。

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產(chǎn)品說明

全光譜橢偏儀——

● 桌上型膜厚量測設備

● 安裝移動迅速便捷

● 適用于所有非金屬膜質

● 多樣化的應用選擇

● 工業(yè)標準數(shù)據(jù)端口

全光譜橢偏儀——

規(guī)格	技術指標
襯底類型	透明或半透明襯底
光源	氙燈
光源壽命	>8760H
光譜范圍	300-1000nm
入射角	70度（40度-90度每5度可調）
光斑直徑	100x120μm(Min80x100um)
測量時間（不對焦）	<2S(單層模型),<約6s（多層模型）
膜厚測量范圍（單層膜）	1nm-15μm
對焦	自動訊號對焦
膜厚測量精度	<0.5nm(基于標片)
折射率測量精度	<0.005(基于標片)
厚度重復性精度：	<0.5A（1 sigma 標準差,10times）（基于標準片）
折射率重復性精度：	<0.0005（1 sigma標準差,10times）（基于標準片）
可測試膜層數(shù)量	≥2層
標片數(shù)量	2片

本頁產(chǎn)品地址：http://m.mingjiewl.com/sell/show-9563844.html

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