KoreSurfaceSeerI是一款高靈敏度的飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS，用于絕緣、導電表面的成像分析與化學成分分析。SurfaceSeerI是研究表面化學的理想選擇，適用于研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應用。

那諾中國有限公司是一家高科技技術服務公司，專注于為大中華區(qū)域（包括中國大陸、香港、澳門和臺灣）的高校、科研院所、企業(yè)研發(fā)與生產(chǎn)提供基于飛行時間質(zhì)譜儀的高性能科學儀器。 我們可以提供高性價比的定制化儀器 ，因為我們能夠重復使用現(xiàn)有的設計模塊，這些來源于我們龐大的、 有據(jù)可查的后臺目錄 中。這些預先存在的機械信息，結合所需要的任何一次性工程，使我們能夠根據(jù)客戶的具體要求生產(chǎn)出價格合理的儀器。 我們的飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS），不僅適用于實驗室實驗，也適用于現(xiàn)場實時分析。我們的儀器在環(huán)境科學、工業(yè)和生產(chǎn)、生物科學、材料科學、半導體、電子等行業(yè)都有廣泛的應用。

Kore SurfaceSeer I是一款高靈敏度的飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS，具有高通量分析功能，可用于絕緣、導電表面的成像分析與化學成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化學的理想選擇，適用于 研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應用。

飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS是非常靈敏的表面分析手段。其憑借質(zhì)譜分析、二維成像分析、深度元素分析等功能，廣泛應用于醫(yī)學、細胞學、地質(zhì)礦物學、半導體、微電子、物理學、材料化學、納米科學、礦物學、生命科學等領域。

Kore SurfaceSeer I 是一款高靈敏度飛行時間二次離子質(zhì)譜儀TOF-SIMS，用于絕緣和導電材料表面的成像和化學測繪。該儀器是研究表面化學的理想工具，在研發(fā)或工業(yè)質(zhì)量控制應用中同樣適用。 SurfaceSeer I 使用與 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技術，但配備了高亮度、高空 間分辨率的 25kV 液態(tài)金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源。LMIG 的探頭尺寸≤ 0.5μm，可實現(xiàn)高分析空間分辨率。全自動計算機控制，允許在質(zhì)譜采集期間掃描離子槍，從而可以收集到化學圖像或圖譜。另外還提供了一個二次電子探測器（SED），用 于調(diào)諧初級電子束和 SED 圖像捕獲。

帶有12.7μm重復單元的銅格柵

SurfaceSeer I 儀器特點：

• 配備25KV液態(tài)金屬離子槍（LMIG）作為主要離子源，檢測能力更強，質(zhì)量分辨率更高；

• 具備表面成像和深度剖析功能；

• 提供的SIMS材料譜庫包含上千種材料的質(zhì)譜數(shù)據(jù)，可識別未知的化合物和材料；

• 可同時分析所有元素及有機物，可消除有機物和元素干擾，使譜圖更清晰，檢測限更低，能更有效地分析材料樣品。

• 專用數(shù)據(jù)處理軟件允許分析數(shù)據(jù)和樣品的化學構成信息進行全面的交互提取，其所有儲存的數(shù)據(jù)都能用于溯源性分析。

• 表面分析靈敏度高達 1x10⁹ atoms/cm²

SurfaceSeer I 應用領域:

• 表面涂層和處理

• 電子元件和半導體

• 電極與傳感器

• 潤滑劑

• 催化劑

• 粘合劑

• 薄膜等包裝材料

• 腐蝕研究

• 大學教學與科研

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