BMDZ-4型PVDF薄膜電阻測(cè)試儀是運(yùn)用環(huán)形三電極法原理測(cè)量固體片狀、薄膜狀或液體類導(dǎo)靜電材料、絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測(cè)量裝置，也可作為超高阻計(jì)或微電流測(cè)試儀使用。不僅可測(cè)試薄膜體電阻，而且可以測(cè)試薄膜的表面電阻，是壓電材料薄膜測(cè)試參數(shù)的重要設(shè)備,是國(guó)內(nèi)高校研究PVDF薄膜材料的重要設(shè)備，也

北京中芯云科儀器有限公司是一家主要是從事儀器設(shè)備，我們同中國(guó)科學(xué)院，北京科技大學(xué)，清華大學(xué)，上海交通大學(xué)，北京航空航天大學(xué)等建立了合作和研究中心，目前我們主要在安全控制設(shè)備，計(jì)量檢測(cè)設(shè)備，科學(xué)材料研究設(shè)備，3D打印及空間技術(shù)的研發(fā)和銷售，我們將同國(guó)內(nèi)的科研機(jī)構(gòu)和高等院校進(jìn)行廣泛的合作，服務(wù)于國(guó)內(nèi)和國(guó)外廣大客戶，我們將提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，優(yōu)質(zhì)服務(wù)，共同開拓進(jìn)取。

BMDZ-4型PVDF薄膜電阻測(cè)試儀

關(guān)鍵詞：PVDF，薄膜，電阻，表面電阻，體電阻

 

 

BMDZ-4型PVDF薄膜電阻測(cè)試儀是運(yùn)用環(huán)形三電極法原理測(cè)量固體片狀、薄膜狀或液體類導(dǎo)靜電材料、絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測(cè)量裝置，也可作為超高阻計(jì)或微電流測(cè)試儀使用。不僅可測(cè)試薄膜體電阻，而且可以測(cè)試薄膜的表面電阻，是壓電材料薄膜測(cè)試參數(shù)的重要設(shè)備,是國(guó)內(nèi)高校研究PVDF薄膜材料的重要設(shè)備，也是材料學(xué)院的重要研究設(shè)備之一。

 

一、符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):

GB/T 3389-2008 壓電陶瓷材料性能測(cè)試方法

 GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》。二、 產(chǎn)品用途：

1、 PVDF薄膜材料表面電阻及體電阻

2、 壓電陶瓷材料表面電阻及體電阻

3、 PVDF薄膜材料表面的微電流測(cè)試

         

三、主要特點(diǎn)：

1、數(shù)字化操作，參數(shù)自由設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤輸出，操作簡(jiǎn)便、性能穩(wěn)定。

2、自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程，電壓、電流量程轉(zhuǎn)換，全部數(shù)字化轉(zhuǎn)換。

3、多窗口顯示體積電阻率、表面電阻測(cè)試結(jié)果，電壓、測(cè)試電流測(cè)試條件，以及設(shè)定修正系數(shù)，內(nèi)容全面。

4、測(cè)試安全保護(hù)，測(cè)試高壓獨(dú)立操作開關(guān)，測(cè)試電流過(guò)流保護(hù)。

5、便于功能拓展，選配薄膜測(cè)試探頭，可以測(cè)試高阻薄膜，選配夾具可以當(dāng)高阻計(jì)和微電流表使用。也可測(cè)試高阻液態(tài)電阻率。

三、測(cè)量范圍

電阻范圍：  1.0×10^2～ 2.0×10^14 Ω,      

分辨率0.01×10^3～ 0.01×10^14 Ω

電阻率范圍：  Kv×( 1.0×10^2～ 2.0×10^14) Ω-cm,   

分辨率0.01×10^3～ 0.01×10^14 Ω-m， K=1～1000，修正系數(shù)）

精度：±0.01

選配：可以配合ZJ-3/6型PVDF壓電測(cè)試儀進(jìn)行薄膜D33系數(shù)測(cè)試

工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤20W

外形尺寸： W×H×L=40cm×15cm×35cm

重量：≤4kg

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