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價格:電議
所在地:湖北 武漢市
型號:TCT-HT
更新時間:2018-08-14
瀏覽次數(shù):1011
公司地址:湖北省武漢市高新大道999號未來科技城C4棟
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王珮鑫(女士)
薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng)產(chǎn)品特點
薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng)測試實例
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| 同溫度下,Si薄膜熱導(dǎo)率測試結(jié)果 | 不同溫度下,SiO2薄膜熱導(dǎo)率測試結(jié)果 |
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| 不同溫度下,GeTe/Bi2Te3超晶格熱導(dǎo)率的變化 | 不同溫度下,GeTe/Bi2Te3超晶格熱導(dǎo)率的變化 |
薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng)技術(shù)參數(shù)
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型號 |
TCT-HT |
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溫度范圍 |
RT-500K |
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測試對象 |
半導(dǎo)體薄膜、導(dǎo)電薄膜、緣薄膜等 |
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熱導(dǎo)率測量范圍 |
0.1-10W/(m·K)(可擴展至2000W/(m·K)) |
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測試精度 (熱導(dǎo)率) |
±5%(在Si上測量),±10%(其他) |
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適合氛圍 |
真空 |
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樣品尺寸 |
長 x 寬:(5-10)x(5-10),單位mm,薄膜厚度≥100nm |
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其他注意事項 |
測量導(dǎo)電薄膜時,需要沉積緣層(推薦:Sio2),薄膜表面要非常光滑,確保緣層不漏電;襯底熱導(dǎo)率要遠(yuǎn)大于薄膜熱導(dǎo)率,推薦使用Si、AIN等高熱導(dǎo)襯底。 |
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主機尺寸 |
710 x 600 x 490,單位mm |
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重量 |
80kg |
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薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng)技術(shù)原理
薄膜熱導(dǎo)率測試系統(tǒng)原理示意圖
本產(chǎn)品技術(shù)方案核心為3ω測試法,其主要原理為在待測薄膜材料表面淀積一層金屬電阻條,往金屬條兩端施加頻率為ω的電流,那么在焦耳熱的作用下該金屬條將產(chǎn)生頻率為2ω的溫升,由于金屬條一般表現(xiàn)出正電阻溫度系數(shù),這將導(dǎo)致其電阻值也產(chǎn)生頻率為2ω的波動,這個頻率為2ω的電阻與頻率為ω的電流耦合將產(chǎn)生一個在頻率為3ω的小電壓信號V3ω。該小信號電壓的幅值與待測材料的熱導(dǎo)率有關(guān),因而檢測該電壓信號后通過相關(guān)計算,就可求出待測材料的熱導(dǎo)率Ks。
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