探針測試臺/測試臺/中測臺/點測機 型號；DP-ST-102ADP-ST-102A型探針測試臺 、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調試，適用于科研、新品試制及小批量的中間測試。

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探針測試臺/測試臺/中測臺/點測機       型號；DP-ST-102A
DP-ST-102A型探針測試臺 、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調試，適用于科研、新品試制及小批量的中間測試。
技　術　指　標 ：
工作臺面  370mm*245mm
載物臺直徑  4"
光學參數(shù)  總放大率：50-100倍；手輪調焦范圍：60mm；升降調焦范圍：200mm；
旋轉臺  粗調范圍：360°；微調范圍：±10°；zui小刻劃：1°；
 銅盤直徑：Φ85mm；緣盤直徑：Φ102mm
三維探針座  探針座X、Y、Z方向調節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；
 三維探針座在工作臺面可任意位置固定，由磁性開關控制；
 多可布三維探針座6個；
 探針臂伸出長度：60mm；
 探針長度：40mm；
探針   探針材質硬質合金，針尖曲率半徑2μm；
 

標準配置：主工作臺、顯微鏡、承片臺、三維微調架2個、探針臂2支、探針2支。
可選配件：三維微調架、探針臂、探針、真空泵。

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