新的 X 射線熒光 (XRF) 分析儀 X-MET5100 將手持式儀器的分析性能提高到全新水平。

X-MET5100 將牛津儀器的硅漂移探測器 (SDD) 和強大的 45 千伏 X 射線管結(jié)合起來，顯示了儀器設(shè)計上的革命性突破。這種尖端技術(shù)提供了快速、高精度的測量，并且無需借助復(fù)雜的真空泵或氦氣罐等附屬設(shè)備就可以對鎂、鋁、硅等輕元素進行測量，這是手持式 X 射線熒光 (XRF) 分析的一大飛躍。

PMI 檢測行業(yè)、廢舊金屬回收行業(yè)、特別是航空工業(yè)終于擁有了他們一直期待的堅固的便攜式 XRF 輕元素測試工具。X-MET5100 保證了鋁及鈦合金的實驗室質(zhì)量分析的精確性，它對檢測銅、鎳和鋼等金屬材料中含有的輕金屬元素時的敏感性也是無與倫比的。

硅漂移探測器 (SDD)、45 千伏 X 射線管和經(jīng)驗系數(shù)分析方法的強大結(jié)合，意味著 X-MET5100 可以在短短 1 秒鐘內(nèi)，準(zhǔn)確地分析和確定金屬合金成分。受限物質(zhì)（重金屬元素）、玩具中的鉛、土壤中的污染物和礦石中的微量物質(zhì)可以得到準(zhǔn)確測量，其速度之快，在從前是絕無可能的。在幾秒鐘之內(nèi)，就可以得到 ppm 級的痕量元素檢測結(jié)果。X-MET5100 無與倫比的速度和準(zhǔn)確性確保了高效可靠的實時檢測結(jié)果。

X-MET5100 是牛津儀器用于日常多元素分析的 X-MET5000 的升級產(chǎn)品，后者于今年早些時候成功推出。這兩款儀器都符合 IP54 (NEMA 3) 防塵防水認(rèn)證要求，能夠承受最苛刻的工作條件。

X-MET5100 已于 9 月在拉斯維加斯國際鈦展覽會和德國埃森世界鋁貿(mào)易博覽會上成功展出。預(yù)計將于2008 年11 月11 日至13 日在北京國際會議中心舉行的2008（第五屆） 中國礦業(yè)博覽會上首次在中國展出。

Twin-X結(jié)合了兩種已獲得廣泛應(yīng)同的牛津探測器技術(shù)：FOCUS 5+專利探測系統(tǒng)和PIN探測器技術(shù)。其輕便緊湊的一體化設(shè)計和空前的多用途與高性能，使其榮獲IBO (Instrument Business Outlook)工業(yè)設(shè)計獎。詳情請點擊這里。

兩種探測器技術(shù)的組合可以達到對元素周期表種中不同位置的元素更全面的檢測。其中FOCUS 5+專利技術(shù)自從其引進到Lab-X3000中后，已經(jīng)獲得了巨大的成功和廣泛的認(rèn)可。

FOCUS 5+專利技術(shù)實現(xiàn)了對目標(biāo)元素的最佳激發(fā)和目標(biāo)元素的選擇性檢測，其優(yōu)勢是檢測元素周期表中原子序數(shù)較低的元素，如Na，Mg，Al，P，S，Ci，K，Ca，……

PIN探測器技術(shù)的優(yōu)勢則在于對復(fù)雜金屬基體的檢測。它可以實現(xiàn)對高原子序數(shù)元素的高靈敏度和高分辨率分析，這些元素如Cr，Mn，F(xiàn)e，Co，Ni，Cu，Zn，……