探針測(cè)試臺(tái)/測(cè)試臺(tái)/中測(cè)臺(tái)/點(diǎn)測(cè)機(jī) 型號(hào);GSZ-ST-102A
GSZ-ST-102A型探針測(cè)試臺(tái) 、與測(cè)試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測(cè)試。
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技 術(shù) 指 標(biāo) :
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工作臺(tái)面
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370mm*245mm |
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載物臺(tái)直徑
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4" |
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光學(xué)參數(shù)
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總放大率:50-100倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm; |
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旋轉(zhuǎn)臺(tái)
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粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°;
銅盤直徑:Φ85mm;緣盤直徑:Φ102mm
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三維探針座
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探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;
三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開關(guān)控制;
多可布三維探針座6個(gè);
探針臂伸出長(zhǎng)度:60mm;
探針長(zhǎng)度:40mm; |
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探針
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探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm; |
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標(biāo)準(zhǔn)配置:主工作臺(tái)、顯微鏡、承片臺(tái)、三維微調(diào)架2個(gè)、探針臂2支、探針2支。
可選配件:三維微調(diào)架、探針臂、探針、真空泵。
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詳細(xì)資料及相關(guān)圖片
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品名
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ST-102C型探針測(cè)試臺(tái)
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特性/規(guī)格
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*.主要的特性和規(guī)格和ST-102A 一樣;
*.監(jiān)視方式:顯微鏡和USB接口CCD攝像頭共存兩 種監(jiān)視方式;
*.五種型號(hào)ST-102系列探針測(cè)試臺(tái)區(qū)別表如下:
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型號(hào)
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監(jiān)視方式
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放大倍數(shù)
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ST-102A
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顯微鏡
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50倍、100倍固定倍數(shù) |
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ST-102B
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CCD攝像頭
監(jiān)視器
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10-100倍連續(xù)變倍 |
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ST-102C
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顯微鏡
USB接口攝像頭
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50倍、100倍固定倍數(shù) |
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ST-102D
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顯微鏡
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14-90連續(xù)變倍
17.5-112.5連續(xù)變倍 |
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ST-102E
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顯微鏡
USB接口攝像頭
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14-90連續(xù)變倍
17.5-112.5連續(xù)變倍 |
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