共焦球面掃描干涉儀/掃描干涉儀 型號(hào):XRS-RL-SP
一、實(shí)驗(yàn)簡(jiǎn)介
共焦球面掃描干涉儀是一種高分辨率的光譜分析儀器。它特別適合分析激光輸出模譜結(jié)構(gòu)，監(jiān)控單頻激光輸出和探測(cè)鎖相效應(yīng)，也可用來(lái)分析光譜線(xiàn)輪廓、超精細(xì)結(jié)構(gòu)和同位素位移。
二、儀器配置與技術(shù)參數(shù)
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儀器指標(biāo)：
１.使用波長(zhǎng)：632.8nm
2. 自由光譜區(qū)：2500MHz
3. 精細(xì)常數(shù)：>100；>200
4. 探測(cè)器帶寬：1.0MHz |
鋸齒波電源指標(biāo)：
1. 頻率：5～100Hz 可調(diào)
2. 幅度：0～150V 可調(diào)
3. 偏置電壓：0～150V可調(diào)
4. 線(xiàn)形：<10% |
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型號(hào) |
波長(zhǎng) |
精細(xì)常數(shù) |
外形尺寸（W x H x L）(mm) |
重量（g） |
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GCI-790101 |
632.8nm |
>200 |
380 x 115 x 262 |
4500 |
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GCI-790102 |
632.8nm |
>100 |
380 x 115 x 262 |
4500 |
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GCI-790103 |
532nm |
>100 |
380 x 115 x 262 |
4500 |
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型號(hào) |
波長(zhǎng) |
精細(xì)常數(shù) |
外形尺寸（W x H x L）(mm) |
重量（g） |
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GCI-790101 |
632.8nm |
>200 |
380 x 115 x 262 |
4500 |
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GCI-790102 |
632.8nm |
>100 |
380 x 115 x 262 |
4500 |
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GCI-790103 |
532nm |
>100 |
380 x 115 x 262 |
4500 |
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型號(hào)
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波長(zhǎng)
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精細(xì)常數(shù)
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外形尺寸（W x H x L）(mm)
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重量（g）
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GCI-790101
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632.8nm
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>200
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380 x 115 x 262
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4500
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GCI-790102
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632.8nm
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>100
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380 x 115 x 262
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4500
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GCI-790103
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532nm
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>100
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380 x 115 x 262
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4500
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