EDX鍍層測(cè)厚儀是x射線激發(fā)樣品產(chǎn)生的熒光，通過(guò)分析熒光的強(qiáng)度來(lái)計(jì)算出金屬電鍍層厚度的測(cè)試設(shè)備。電鍍層測(cè)厚儀通過(guò)計(jì)算機(jī)自動(dòng)操作，自動(dòng)檢測(cè)算出電鍍層厚度，操作方便。任何的儀器設(shè)備都會(huì)有故障產(chǎn)生的時(shí)候，那么為什么鍍層測(cè)厚儀有時(shí)測(cè)量不準(zhǔn)確呢?這是一個(gè)比較籠統(tǒng)的問(wèn)題。下面，我們來(lái)分析一下影響本儀器測(cè)量結(jié)果的因素：
    一、強(qiáng)磁場(chǎng)的干擾
    當(dāng)儀器在1萬(wàn)V左右的電磁場(chǎng)附近工作時(shí)，測(cè)量會(huì)受到嚴(yán)重的干擾。如果離電磁場(chǎng)非常近時(shí)還有可能會(huì)發(fā)生死機(jī)現(xiàn)象。
    二、鍍層測(cè)厚儀發(fā)生故障
    此時(shí)可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。
    三、在系統(tǒng)矯正時(shí)沒(méi)有選擇合適的基體
    基體小平面為7mm，小厚度為0.2mm，低于此臨界條件測(cè)量是不可靠的。
    四、附著物質(zhì)的影響
    鍍層測(cè)厚儀對(duì)那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì)，以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進(jìn)行系統(tǒng)矯正時(shí)，選擇的基體的表面。
    五、人為因素
    這種情況經(jīng)常會(huì)發(fā)生在新用戶的身上。EDX鍍層測(cè)厚儀之所以能夠測(cè)量到微米級(jí)就因?yàn)樗軌虿扇〈磐康奈⑿∽兓?，并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號(hào)。在使用儀器測(cè)量過(guò)程中如果用戶對(duì)本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測(cè)機(jī)體，使磁通量發(fā)生變化造成錯(cuò)誤測(cè)量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時(shí)，要先掌握好測(cè)量方法。探頭的放置方式對(duì)測(cè)量有很大影響，在測(cè)量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時(shí)間不宜過(guò)長(zhǎng)，以免造成基體本身磁場(chǎng)的干擾。