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電阻測試儀可用于測量一般半導體材料、導電薄膜
發(fā)布時間：2018-12-26瀏覽次數(shù)：1769返回列表
電阻測試儀 型號：GSZ-ST-21
方塊電阻測試儀是一種依照類似的標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。
